第一版前言

纳米材料是当前材料科学领域的研究热点,由于它具有区别于一般材料的优异特性而备受关注,在塑料、陶瓷、建材、纤维、金属等领域得到广泛应用,前景辉煌。纳米材料是一个不十分明确的概念,它是纳米大小、纳米尺度、纳米颗粒、纳米晶粒材料的统称,它们的大小、尺度、颗粒或晶粒一般在1~100nm范围。由于纳米材料的性能与它们的结构、成分等息息相关,因此对纳米材料的表征显得尤为重要。传统的表征手段主要有透射电子显微镜、扫描电子显微镜、X射线衍射仪、粒度分布仪等,近年来,扫描探针显微镜、扫描隧道显微镜和原子力显微镜等在纳米材料研究中得到广泛应用,成为纳米科技的“手”和“眼”,但是那些传统表征方法的作用仍不容小觑。

X射线分析是基本的材料表征手段,因为不管材料是晶态抑或是非晶态,也不管它是否在纳米尺度,都是X射线衍射、散射等的极好研究对象。本书就是介绍利用X射线表征纳米材料的著作,它的主要特点在于详细介绍了利用X射线衍射方法表征纳米材料的微结构,即纳米晶体的形状、尺度、微应力存在情况以及纳米材料中的堆垛层错的存在情况,同时分别用一章的篇幅介绍了纳米薄膜和介孔材料的X射线表征以及表征纳米材料粒度分布与分形结构的小角散射法。

本书在编写过程中得到了中科院上海硅酸盐研究所的大力支持,在此致以衷心的感谢!

由于编著者学识所限以及编写经验的不足,书中疏漏之处在所难免,恳请广大读者批评指正。

编著者

2010年3月