纳米材料的X射线分析(第2版)
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1.4 倒易点阵[1]

1.4.1 倒易点阵概念的引入

因为在晶体学中通常关心的是晶体取向,即晶面的法线方向,希望能利用点阵的三个基矢abc来表示出某晶面的法向矢量Shkl。由图1.9可看出晶面法向矢量:

ShklPQ   (1.10)

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图1.9 倒易矢量的引入

其中P=-;Q=-,即 P×QShkl   (1.11)

因为矢量Shkl的大小尚未限制,不妨定义一个矢量

H=Shkl   (1.12)

来表示晶面法向,并取“规一化因子”为:

=(V为晶胞体积)   (1.13)

因此

H·×   

H=ha*+kb*+lc*   (1.14)

上式中:

a*=; b*=; c*=   (1.15)

于是我们能用点阵的基矢来表示出晶面的法向。

现在,以a*b*c*为三个新的基矢,引入另一个点阵。显然该点阵矢量H的方向就是晶面(h k l)的法线方向,该矢量指向的阵点指数为hkl。这个有意义的性质表明:新点阵的每个阵点是和一族晶面(h k l)相对应的。我们称这个新点阵为倒易点阵,而原来的点阵为正点阵;称H为倒易矢量(在电子衍射中,常用符号g表示被激发的倒易矢量)。

倒易点阵的引入可以把正点阵中的二维问题化为一维处理,使许多问题得到简化。