数字射线检测技术
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复习题

一、选择题(将唯一正确答案的序号填在括号内)

1.从探测原理考虑,下面列出的辐射探测器类型中,错误的是( )

A.气体辐射探测器B.固体辐射探测器

C.半导体辐射探测器D.闪烁辐射探测器

2.对于工业数字射线检测技术,下面列出的常用辐射探测器中,错误的是( )

A.非晶硅探测器B.成像板(IP板)

C.图像增强器D.气体探测器

3.从使用角度,下面列出的应关心的辐射探测器主要性能指标中,错误的是( )

A.像素尺寸B.动态范围C.适用能量范围D.尺寸与重量

4.下面关于分立辐射探测器的叙述中,错误的是( )

A.结构中具有分立的辐射探测单元B.可直接给出数字化检测图像

C.非晶硅探测器属于分立辐射探测器D.均为直接转换辐射探测器

5.下面列出的辐射探测器基本性能项目中,正确的是( )

A.基本空间分辨力与规格化信噪比B.基本空间分辨力与动态范围

C.基本空间分辨力与能量范围D.基本空间分辨力与灵敏度

6.下面列出的有关辐射探测器系统基本空间分辨力的叙述中,错误的是( )

A.基本空间分辨力等于检测图像不清晰度的1/2

B.基本空间分辨力表征了探测器系统分辨几何细节的最高能力

C.基本空间分辨力决定于探测器系统的固有不清晰度

D.基本空间分辨力限定了检测系统可实现的最高空间分辨力

7.对于分立辐射探测器,下面给出的决定其基本空间分辨力大小因素中,正确的是( )

A.像素尺寸B.检测布置放大倍数

C.采用射线能量D.试件材料

8.下面给出的关于规格化信噪比叙述中,正确的是( )

A.按基本空间分辨力决定的信噪比B.按射线能量决定的信噪比

C.按放大倍数决定的信噪比D.探测器可获得的最高信噪比

9.关于非晶硅辐射探测器,下面给出的叙述中,存在错误的是( )

A.它是一种直接转换的辐射探测器B.结构包括闪烁体、非晶硅层和TFT阵列

C.闪烁体将辐射转换为光D.非晶硅层将光转换为电信号

10.关于非晶硒辐射探测器,下面给出的叙述中,存在错误的是( )

A.是一种直接转换的辐射探测器B.结构包括闪烁体、非晶硒层和TFT阵列

C.非晶硒层将射线转换为电信号D.直接给出数字检测图像

11.下面有关IP板探测器的叙述中,错误的是( )

A.IP板结构的核心是荧光物质层

B.荧光层由特殊的荧光物质构成

C.荧光层可将射线信息以潜在图像保存

D.采用电子激发可将射线信息转化为可见的图像

12.对于IP板辐射探测器系统,下面列出的组成项目中,错误的是( )

A.IP板B.IP板图像读出装置

C.A/D转换器D.IP板图像读出软件

13.对于IP板辐射探测器系统,下面列出的影响其基本空间分辨力的项目中,错误的是( )

A.IP板本身性能B.被检验试件材料

C.IP板图像读出装置性能D.IP板图像读出软件与设置参数

14.对于编号标志为“10FEJB”的丝型像质计,下列叙述中,错误的是( )

A.丝型像质计的材料为钢(Fe) B.最细金属丝的编号为10(直径为0.40mm)

C.是我国机械行业标准的丝型像质计D.丝型像质计金属丝直径公比近似为1.25

15.下列关于双丝型像质计叙述中,错误的是( )

A.双丝型像质计的基本结构是13对平行放置的丝对

B.编号为8的丝对直径为0.16mm、材料为铂,对应的不清晰度为0.32mm

C.目前双丝型像质计可在各种检测条件下检测图像的不清晰度

D.双丝型像质计测定不清晰度依据的是不清晰度对细节图像的影响

16.采用双丝型像质计测量检测图像时,若刚刚不能分辨为丝对的丝径为0.20mm,下面给出的检测图像空间分辨力线对值中,正确的是( )

A.5Lp/mm B.4Lp/mm C.3Lp/mm D.2.5Lp/mm

二、判断题(判断下列叙述是正确的或错误的,正确的划○,错误的划×)

1.辐射探测器,按原理可分为三类:气体辐射探测器、闪烁辐射探测器、半导体辐射探测器。( )

2.半导体辐射探测器在辐射照射下可产生电子空穴对,在电场作用下可引起电信号。( )

3.规格化信噪比与基本空间分辨力构成了辐射探测器的基本性能。( )

4.基本空间分辨力是辐射探测器的基本性能之一,它决定了检测技术系统不采用放大透照技术时可实现的最高细节分辨能力。( )

5.在一定照射剂量范围内,探测器规格化信噪比随照射剂量平方根增大而增大。( )

6.分立辐射探测器的规格化(标准化、归一化)信噪比决定于辐射探测器的结构特性,与采用的射线检测技术无关。( )

7.非晶硅辐射探测器由闪烁体、非晶硅层(光电二极管阵列)、TFT阵列(大面积薄膜晶体管阵列)等构成。它是一种直接转换辐射探测器。( )

8.在非晶硅分立辐射探测器中,非晶硅层(光电二极管阵列)将入射射线转换为检测信号。( )

9.非晶硒分立辐射探测器,由闪烁体将入射射线转换为检测信号,它是一种直接转换型辐射探测器。( )

10.CCD和CMOS辐射探测器,都采用闪烁体将射线转换为光,然后由感光器件将光信号转变为电信号。( )

11.IP板采用特殊的荧光物质探测射线,这种荧光物质可以近似稳定地储存照射的射线信号。( )

12.IP板探测器系统的性能,决定于IP板本身的性能,与IP板图像读出单元的性能和图像读出设置的参数无关。( )

13.在A/D转换器中,转换过程包括取样、保持、量化、编码四个步骤。( )

14.平板孔像质计的EPS灵敏度与阶梯孔像质计灵敏度意义相同。( )

15.双丝型像质计编号为1的丝对的丝材料为钨,直径为0.80mm。( )

16.一般说,双丝型像质计只适用于测定数字射线检测系统的空间分辨力。( )

三、问答题

1.简单说明辐射探测器系统概念。

2.简单说明辐射探测器系统的基本性能。

3.简述非晶硅辐射探测器的基本结构与射线信号转换过程。

4.简述非晶硒辐射探测器的基本结构与射线信号转换过程。

5.简述CR技术成像板(IP板)的基本结构与射线探测原理。

6.简述图像数字化的基本过程。

7.简述双丝型像质计的基本设计。

8.简述使用双丝型像质计测定射线检测不清晰度的方法。