更新时间：2019-01-04 18:41:12
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版权信息
前言
第一版前言
第一章 绪论
第一节 X射线荧光光谱的产生及其特点
第二节 X射线荧光分析技术的新应用
第三节 X射线荧光光谱仪研制进展
参考文献
第二章 基本原理
第一节 特征X射线的产生与特性
第二节 X射线吸收
第三节 X射线散射
第四节 X射线荧光光谱分析原理
第五节 X射线衍射分析
第三章 激发源
第一节 常规X射线光管
第二节 液体金属阳极X射线光管
第三节 冷X射线光管
第四节 单色与选择激发
第五节 同位素源
第六节 同步辐射光源与粒子激发
第七节 聚束毛细管X射线透镜
第八节 X射线激光光源
第四章 探测器
第一节 波长色散探测器
第二节 能量探测器
第三节 新型能量探测器
第四节 各种探测器性能比较
第五章 X射线荧光光谱仪
第一节 波长色散X射线荧光光谱仪
第二节 能量色散X射线荧光光谱仪
第三节 同位素源激发X射线荧光光谱仪
第四节 偏振激发X射线荧光光谱仪
第五节 全反射X射线荧光光谱仪
第六节 聚束毛细管透镜微束XRF光谱仪
第六章 定性与定量分析方法
第一节 定性分析
第二节 定量分析
第三节 数学校正法
第四节 实验校正方法
第五节 实验校正实例——散射线校正方法
第七章 基体校正
第一节 基本参数法
第二节 理论校正系数
第八章 分析误差和统计不确定
第一节 分析误差和分布函数
第二节 计数统计学
第三节 灵敏度、检出限及XRF中的误差来源
第四节 不确定度及不确定度计算
第九章 XRF中的化学计量学方法和应用
第一节 曲线拟合与遗传算法
第二节 基体校正与神经网络
第三节 模式识别
第十章 样品制备
第一节 制样技术分类
第二节 分析制样中的一般问题
第三节 金属样品的制备
第四节 粉末样品的制备
第五节 液体样品
第六节 其他类型样品的制备
第七节 微少量、微小样品的制备
第八节 低原子序数元素分析的特殊问题
第九节 样品制备实例
第十一章 X射线荧光光谱仪的特性与参数选择
第一节 波长色散型X射线荧光光谱仪的特性与技术进展
第二节 X射线高压发生器
第三节 X射线光管特性与选择使用
第四节 滤光片、光阑和准直器
第五节 晶体适用范围及其选择
第六节 2θ联动装置
第七节 测角仪
第八节 探测器特性与使用
第九节 脉冲高度分析器
第十节 实验参数的选择
第十一节 能量色散XRF光谱仪的特性和注意事项
第十二节 全反射X射线荧光光谱仪特性与设计要点
第十二章 仪器检定、校正与维修
第一节 仪器检定
第二节 脉冲高度分析器的调整及仪器漂移的标正
第三节 日常维护
第四节 常见故障及维护
第五节 仪器选型常用标准与判据
第十三章 同步辐射X射线荧光光谱分析技术与应用
第一节 同步辐射技术的特点与发展
第二节 同步辐射原理
第三节 同步辐射X射线荧光分析技术
第四节 同步辐射X射线吸收精细结构谱与应用
